Sistema di deposizione di film sottile ibrido PVD

Sistema di deposizione di film sottile ibrido PVD

Dettagli
Il sistema ibrido di deposizione di film sottile PVD integra evaporazione termica, evaporazione con fascio di elettroni (e-beam) e sputtering di magnetron RF/CC all'interno di un'unica architettura sotto vuoto. Questa piattaforma consente la deposizione sequenziale o co-di metalli, leghe e dielettrici senza rompere il vuoto, prevenendo l'ossidazione interfacciale. Progettato per istituti di ricerca e sviluppo e linee di produzione pilota, il sistema gestisce substrati fino a 6 pollici con rotazione automatizzata multi-asse.
Classificazione del prodotto
Attrezzatura per film sottile composito PVD
 
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Descrizione
Parametri tecnici

Il sistema ibrido di deposizione di film sottile PVD integra evaporazione termica, evaporazione con fascio di elettroni (e-beam) e sputtering di magnetron RF/CC all'interno di un'unica architettura sotto vuoto. Questa piattaforma consente la deposizione sequenziale o co-di metalli, leghe e dielettrici senza rompere il vuoto, prevenendo l'ossidazione interfacciale. Progettato per istituti di ricerca e sviluppo e linee di produzione pilota, il sistema gestisce substrati fino a 6 pollici con rotazione automatizzata multi-asse.

 

Specifiche tecniche

 

Parametro

Specifica

Pressione base finale

< 5.0 x 10^-6 Pa (baked out)

Tempo di pompaggio-down

< 15 minutes to 1.0 x 10^-3 Pa

Dimensione del substrato

Supporti per wafer/personalizzati fino a 6 pollici di diametro

Uniformità dello spessore del film

<= +/- 1% across a 4-inch substrate (planetary rotation)

Fonti di deposizione

Fino a 3 tasche per raggi e-, 2 barche termiche, 4 catodi magnetron

Temperatura del substrato

Da ambiente a 800 gradi C (controllo PID)

Materiale della camera

Acciaio inossidabile elettrolucidato 304L / 316L

Conformità alla sicurezza

Conforme CE; componenti costruiti secondo gli standard UL/NFPA su richiesta

 

Caratteristiche principali


Prese modulari:Le flange della sorgente intercambiabili consentono una rapida riconfigurazione tra i catodi sputtering e gli evaporatori a fascio termico/e-.


Architettura di isolamento:Le valvole a saracinesca pneumatiche isolano la camera di processo dal camino ad alto- vuoto per ridurre al minimo la generazione di particelle.


Monitoraggio in-situ:Porte dedicate per sensori di microbilancia a cristalli di quarzo (QCM) e spettroscopia di emissione ottica (OES).


PLC di sicurezza interbloccato:Gli interblocchi hardware impediscono l'attivazione della sorgente in caso di alta pressione, mancanza di acqua di raffreddamento o violazioni della sicurezza.

 

Configurazione del sistema di vuoto


Pompa per sgrossatura:Pompa scroll a secco (30 m^3/h) per eliminare il ritorno di idrocarburi.


Pompa per alto vuoto:Pompa turbomolecolare a levitazione magnetica (1200 L/s per N2) supportata da una trappola criogenica.


Calibri:Sensori combinati Pirani e catodo freddo che coprono l'atmosfera fino a 10^-7 Pa.


Cottura:Guaine riscaldanti a cartuccia con coperte isolanti esterne che raggiungono fino a 150 gradi C.

 

Compatibilità di materiali e substrati


Materiali di evaporazione:
Metalli:
Au, Ag, Al, Ti, Cr, Pt, Cu, Ni


Dielettrici e ossidi: SiO2, TiO2, Al2O3, ITO


Semiconduttori:Sì, Ge


Tipi di substrato:Wafer di silicio mono-cristallino, vetro, quarzo, pellicole di poliimmide e lamine metalliche.

 

Applicazioni


Dispositivi optoelettronici:Elettrodi conduttivi trasparenti (ITO) e riflettori multi-strato per OLED e celle solari.


Imballaggio microelettronico:Metallizzazione sotto-bump (UBM) e strati seed per imballaggi a livello di wafer-.


Ricerca e sviluppo avanzati:Strutture di dispositivi quantistici, film sottili superconduttori e giunzioni tunnel magnetiche (MTJ).

 

Opzioni di personalizzazione


Scala della camera:Dimensioni estese per substrati da 12 pollici o integrazione del vano portaoggetti.


Configurazione della sorgente:Volumi di crogiolo personalizzati, alimentatori con polarizzazione RF e moduli di deposizione assistita da ioni (IAD).


Automazione:Gestione delle ricette tramite touchscreen o piena conformità all'automazione di fabbrica SECS/GEM.

 

Controllo di qualità


Test di tenuta:Test con spettrometro di massa ad elio per camera (< 1 x 10^-10 Pa*m^3/s threshold).


Controlli dimensionali:Verifica CMM delle distanze dalla sorgente-al-substrato e delle tolleranze delle flange.


Test elettrici:-Test dell'alta tensione, controlli di continuità della messa a terra e controlli EHS su tutte le linee ad alta-tensione.

 

Installazione e supporto


Test di accettazione in fabbrica (FAT):Controlli pre-della spedizione relativi alla pressione di base, alla funzionalità della sorgente e al ciclo automatizzato presso la nostra struttura.


Installazione sul campo:Allineamento meccanico in loco-, verifica del collegamento delle utenze e test di accettazione del sito (SAT).


Documentazione:La consegna completa include schemi elettrici, diagrammi P&ID, backup PLC e certificati di test di fabbrica.

 

Domande frequenti

 

D: Il sistema può passare dallo sputtering reattivo all'evaporazione termica in un'unica operazione?

R: Sì. Gli otturatori pneumatici isolano ciascuna sorgente, consentendo l'esecuzione sequenziale senza interruzione del vuoto.

D: Quali sono i requisiti di utilità della struttura?

R: Richiede alimentazione trifase 380 V/480 V, acqua di raffreddamento (da 18 °C a 22 °C a 0,3 MPa), aria compressa (da 0,5 a 0,7 MPa) e una linea di scarico della pompa per vuoto.

D: Come si previene la-contaminazione incrociata tra fonti metalliche?

R: I camini delle singole sorgenti, i deflettori direzionali e gli otturatori fisici riducono al minimo le diafonia dei materiali durante le esecuzioni con più sorgenti.

 

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